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SEM+EDS分析 |
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SEM通过聚焦电子束扫描样品表面，激发二次电子和背散射电子等信号，这些信号被转换为图像，从而揭示样品的微观形貌和结构信息。
SEM+EDS分析可以用于检测样品表面的微小缺陷、裂纹、腐蚀等现象，为材料科学、质量控制和失效分析等领域提供重要信息。
在SEM+EDS分析中，样品的制备和处理过程对分析结果有重要影响，需要选择合适的制备方法，避免样品污染和损伤。
SEM+EDS分析技术可以用于研究材料的微观结构和性能之间的关系，为材料的设计、制备和应用提供科学依据。
在SEM+EDS分析中，可以通过调整电子束的加速电压、束流强度等参数，优化成像效果和元素分析的准确性。
在SEM+EDS分析中，需要注意样品的热稳定性和化学稳定性对分析结果的影响，需要选择合适的测试条件，避免样品在测试过程中发生变化。
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