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SEM+EDS分析 |
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SEM通过聚焦电子束扫描样品表面，激发二次电子和背散射电子等信号，这些信号被转换为图像，从而揭示样品的微观形貌和结构信息。
EDS的工作原理是利用高能电子束轰击样品表面，激发原子内层电子并产生特征X射线，通过测量X射线的能量可以确定元素的种类和浓度。
SEM+EDS分析可以用于检测样品表面的微小缺陷、裂纹、腐蚀等现象，为材料科学、质量控制和失效分析等领域提供重要信息。
SEM+EDS分析技术具有高分辨率、高灵敏度、高准确性等优点，能够实现对样品表面和内部微观结构的深入分析和理解。
在SEM+EDS分析中，可以通过与其他分析技术如透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射（XRD）等结合使用，获取更全面的材料信息。
SEM+EDS分析技术可以用于研究生物样品的微观结构和成分分布，为生物医学研究和临床诊断提供重要信息。
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