产品别名 |
薄膜厚度测量仪-,测厚仪器,薄膜测厚仪厂家供应,薄膜厚度测量仪-0.1μm |
面向地区 |
可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点,已成为我国工业生产线产品质量控制的重要设备。采用激光测量法,连续对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单,可设定测值上下限,超出界限值时主机自动报警。对板材、带材进行非接触、连续、快速在线测量。适用于冷轧带钢、铜、铝和其他金属材质的带材、箔材及玻璃、橡胶等非金属板材厚度测量。并可输出厚差信号,参予闭环调节,实现厚度的自动控制。
本公司生产多种型号和规格的测厚仪,从简单的厚度显示到输出厚调信号参予闭环调节等的测厚仪,实现对各种材质和范围的厚度测量。同时本着质量﹑用户至上的原则,对产品一律上门安装、调试、直到正常运行,提供有关技术资料,培训操作人员。
X射线测厚仪利用X射线管通电产生X射线作为信号源，根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换检测薄膜的厚度，它的特点是放射物质能量低，无需使用许可证，测量精度高，可测量透明或不透明材料，不受添加剂和色母料的影响，不受环境温度和薄膜抖动影响。
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
检测头采用电离室和电子前置放大器组成电离室检测头，离子室设计具有大空间，高抗干扰性、高灵敏度等特点。系统备有风冷、油冷恒温冷却单元，延长系统的使用寿命。
薄膜测厚仪主控制柜是一个自由立式控制台，是个系统的心脏。根据产品型号、控制系统配置不同，P型采用S7-400PLC作为控制计算中心；G型采用工控机为控制计算中心。控制柜负责采集和处理从前置放大器传来的信号，负责测厚仪数据处理和与轧机AGC系统的接口信号输出，为轧机AGC系统提供测厚数据及控制信号。控制柜还提供整个系统稳定的电源和现场显示器的显示数据。
