天瑞光谱仪器ROHS快速测试仪

快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低
2、采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现计数率，采集有效计数率超过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率更高
4、光闸系统
优势：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度

产品功能：
1.具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换，即可向配料系统传送分析数据，也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量。
2.具有技术的，快速，安全，性能可靠而实用的样品装卸系统
3.摇臂式设计的样品装卸系统，完善的粉末保护方式，预真空室和限定位置机构，实现高度重现性，无故障，快速稳定。1000W光路设计示意图，

具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。
同时具有合金测试、合得奖号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。
检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。
x荧光光谱仪xrf标准配置
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
合金测试超薄窗X光管
超薄窗大面积的原装进口SDD探测器
信噪比增强器SNE
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
三重安全保护模式
整体钢架结构，力度可靠的

x荧光光谱仪使用中常见的问题及注意事项
1、过滤时有时会出现流动相漏液。可能的原因是滤膜放置不正确和接头有点错位，导致流动相从缝隙中漏出。
注意：操作时，应先向滤瓶内倒入少量流动相，观察是否漏液并开始过滤，若未漏液，再向滤瓶中添加流动相。
2、超声时，瓶外液体的液面应瓶内流动相的液面，否则流动相内的气体可能无法排出液体，气体仍然残留在流动相内，以致开机排气时无气泡排出。
3、开机排气结束后，应先将流动相流量调小，再关闭排气阀，否则会导致柱压瞬间升高超过压力上限，致使泵停止工作。
4、反相LC液相色谱仪冲洗柱子时，应尽量避免使用纯水流动相冲洗柱子，因为水性强，会损害色谱柱，导致柱效下降。
5、冲洗色谱柱时，还可以不同比例的混合流动相冲洗色谱柱，以冲出不同性的残留物质，但还是要用纯有机流动相冲洗色谱柱一段时间。
6、在实验过程中会出现压力超过上限或压力偏高，有可能是柱内有残留物质未被冲出，此时应用较大流速的有机流动相充分冲洗色谱柱。若条件允许，也可采用梯度洗脱的方式冲洗色谱柱。压力过高也有可能是滤头堵塞，此时可将滤头取出放到中超声。
7、若隔天或更长时间不使用LC液相色谱仪，应将两流动相瓶中均倒入纯的有机流动相（因为水流动相长时间不用会滋生，污染滤头和色谱柱，导致下次开机使用时会出现鬼峰，基线不稳）。
8、进样时所进样品的体积应不小于色谱柱的容积，且进样时器里的气泡一定要排出，不可将气泡打进色谱柱。

x荧光光谱仪由激发源和探测系统构成，可以产生X荧光来检测各元素的特征X射线的强度，从而测定元素含量。台式X荧光光谱仪的正确操作方法如下：
1、仪器采用X光管产生激发源，因此，在不使用时，仪器会自动将X光管的高压断掉，使X光管的电源处理待机状态。此时，仪器将不会产生任何射线，同时大大X光管的寿命。
2、在放置样品时，只要开启防护罩，仪器也自动将X光管停止，不再产生X射线，完全可以保护使用者的人身安全。
3、开启、关闭仪器盖子时，应轻开轻放。
4、设备使用的操作人员，要接受安全和操作培训后，才可上机，以确保设备的安全操作与正确使用。
台式X荧光光谱仪的操作人员应该养成正确的设备使用习惯，在使用中严格按照操作规程来对仪器进行操作。

技术指标高灵敏度探测器（分辨率达149Ev），精密的放大电路，
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸：300×300×100mm
大样品腔尺寸：样品尺寸不受限制
X射线管：靶材/Mo管电压/5～50kV管电流/1～1000μA
照射直径：2、5、8mm
探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件
定量分析：理论Alpha

X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。
大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

X荧光光谱仪粉末样品误差主要来源：
（1） 粒度效应 粉末样品粒度效应是指被测量样品中的分析元素的荧光强度变化和样品的粒度变化有关。一般来说，被分析样品的粒度越小，荧光强度越高，轻元素尤甚。原子序数越小，对粒度越敏感；同一元素粒度越小，制样稳定性越好。一般要求粒度小于200 目。
（2） 偏析 偏析是指组分元素在样品中分布的差异。偏析有两种：粒间偏析：粉末颗粒A 和B 之间混合不均匀；元素偏析：元素分布对粒度分布的非匀质性。如果在采用充分多步混合或微粉碎情况下仍不能解决，可用其它制样手段，如熔融，溶解等。
（3）矿物效应 由于矿物的化学结构或微观晶体形态不同，含量相同的同一元素在不同的矿物中，它们的荧光强度会有很大的差异。所谓的矿物效应不单是针对矿物，在粉末样品的X 荧光光谱仪分析中有着更广泛的含义。

引起样品误差的原因：
（1）样品物理状态不同，样品的颗粒度、密度、光洁度不一样；样品的沾污、吸潮，液体样品的受热膨胀，挥发、起泡、结晶及沉淀等。
（2）样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。
（3）样品的组成不一致 引起吸收、增强效应的差异造成的误差
（4）被测元素化学结合态的改变 样品氧化，引起元素百分组成的改变；轻元素化学价态不同时，谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。
（5）制样操作 在制样过程中的称量造成的误差，稀释比不一致，样品熔融不完全，样品粉碎混合不均匀，用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。
3、样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
（1）固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。
（2）粉末样品 包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还有岩石土壤等。
（3）液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。